第三代半导体材料，尤其是碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)，在电动汽车、可再次生产的能源、工业电源、军事和航空航天、快充技术、无线通信、消费电子等领域中展现出巨大的未来市场发展的潜力。这些材料具备高热导率、高击穿场强、高饱和电子漂移速率和高键合能等优点，使其在高温、高压、高频以及抗辐射等恶劣条件下表现出色。这些材料虽然具有非常明显的性能优势，但开关速度很快的特点也给测试测量带来了不小的挑战。

  在实际应用中，碳化硅上管Vgs的测量是一个技术痛点。碳化硅器件的开关速度很快，这会导致其高频谐波成分依然具有很大的谐波能量，在实际开发调试过程中，会观察到上管Vgs出现信号振荡的现象，而工程师却无法判断信号的真实性，这就要求测试设备在高频段依然具备极高的共模抑制能力。

  ● 客户痛点： 使用碳化硅器件研发电源产品时，使用传统差分探头测量上管Vgs, 信号震荡，难以分析定位问题

  下面现场测试图中，展示的是麦科信高分辨率示波器MHO3系列MHO3-5004、光隔离探头MOIP系列MOIP1000P、柔性电流探头RCP系列RCP600XS、以及被测电源。

  下面测试点位连接图中，光隔离MOIP1000P采用MMCX同轴线连接上管Vgs信号，罗氏线XS穿过芯片管脚持续监测上管Id电流信号。

  下面示波器展示的上管Vgs和Id测试波形图中，通道4(绿色波形)显示的是上管Vgs信号，通道2(蓝色波形)显示的是上管Id电流信号。

  在未接触到麦科信光隔离探头之前，都是用差分探头来测试，测试的波形在上管开通/关断的时候确实会出现一些震荡;由于缺乏经验，我们工程师并没有怀疑测试设备的问题，花了大量的时间来更改电路，调整参数等等，但是震荡问题任旧存在;这次使用了麦科信的光隔离探头，一开始抱着试试看的想法，实测后效果很不错，测试点位的波形跟我们的理论很相似，解决了我们研发中的大问题。

  麦科信(Micsig)基于独家SigOFIT™技术的光隔离探头MOIP1000P共模抑制比高达180dB，在1GHz频段依然能够达到100dB以上，使用它能够更有效地进行以碳化硅，氮化镓为核心器件的电源设计的电路测试和验证，让工程师抓取到真实的上管Vgs电压波形，帮助工程师准确分析自己的电路设计是不是满足需求，确保了产品的高性能和可靠性。这不仅提升了他们的产品质量，也加强了市场的竞争力。麦科信的创新技术和解决方案为更多电源设计公司提供了强有力的支持，一同推动了行业技术的进步和发展。

  深圳麦科信科技有限公司是一家行业技术领先的信号测试测量设备研发制造商和方案提供商，国家级高新技术企业，专精特新企业。麦科信(Micsig)致力于信号测试测量领域前沿技术的研究和开发，尤其在示波器及示波器探头产品领域我们从始至终走在创新的前沿，是平板示波器开创者，光隔离探头引领者。

  我们秉承使命和愿景，从专业出发，不断突破技术边界，助力每一位电子领域工作者与所在组织更加高效和卓越。

  公司主要营业产品有示波器系列：高分辨率示波器，平板示波器，汽车诊断示波器，分体式示波器，示波器探头系列：光隔离探头，高压差分探头，柔性电流探头(罗氏线圈)，高频交直流电流探头，低频交直流电流探头等。

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