电池或锂聚合物电池的容量较小,大部分在400~1000mAh范围内,与之配套的充电器的最大充电电流为450~1000mAh。因为电流不大,一般都会选用线性充电器。
新式线性锂离子电池充电器功用完全、功用好、电路简略、占印制版面积小,价格低,整个充电器可以在产品中。若选用USB端口充电,运用非常便利。
近年来,一些用电量稍大的便携式电子科技类产品(如便携式DVD、矿灯、摄像机、便携式丈量仪器、小型电动工具等)往往选用1500mAh到5400mAh容量的锂离子电池。若选用500~1000mA充电电流充电器充电,则充电时刻太长。若按0.5C充电率来充3000mAh及5400mA时的电池时,其充电电池的容量要求为1500mA及2700mA。
有人提出:能否在1A线性充电器电路中加一个扩流电路,使充电电流扩大到2~2.5A,处理3000~5400mAh容量锂离子电池的充电问题。假如扩流的充电器功用不错、电路简略、本钱不高,这是个好主意。笔者就按这一思路规划一个扩流电路。这电路采纳型号为CN3056的1A线性充电器为根底,别的加上扩流电路及操控电路组成。
CN3056充电器已在本刊2006年12期及2007年电源增刊上介绍过(“线性锂二次电池充电器芯片CN3056”)。这儿仅作一简介。
CN3056组成的充电器按恒流、恒压形式充电,若充电电池电压3V,则有小电流预充电形式;充电电流可设定,最大充电电流为1A;精电密度4.2V 1%、有热调理、欠压锁存及电池温度检测、超温维护及充电状况和温度超差指示功用;10引脚小尺度DFN封装(3mm×3mm)。
若充电率在0.5~1C之间、电池的温度在0~45℃之间(室温充电),则CN3056充电器电路中可省去电池温度检测电路及电池超温指示电路(引脚TEMP及FAULT端接地),电路如图1所示。VIN是电源输入端、CE是使能端,(高电平有用);RISET为充电电流ICH设定电阻,RISET()=1800(V)/ICH(A);CHRG为充电状况信号输出端:充电时此端为高电平,LED亮;充电完毕时此端为高阻抗,LED灭;电池未装入或接触不良,LED闪亮。VIN一般取4.5~5V,10F及6.8F为输入、输出电容,确保充电器安稳作业。
充电器扩流电路是在原充电器电路上加上扩流电路组成的。扩流电路由两部分组成:扩流部分及操控部分。选用CN3056充电器为根底,加上扩流部分及操控部分电路如图2所示。现别离介绍其作业原理。
扩流部分电路如图3所示。它由P沟道功率MOSFET(VT)、R及RP组成的分压器、肖特基二极管D4组成。使用分压器调理P-MOSFET的-VGS巨细,使取得所需扩流电流ID。P-MOSFET的输出特性(以Si9933DY为例)如图4所示。在-VGS=2.1V、VDS0.5V时,其输出特性几乎是一水平直线;在不同的VDS时,ID是恒流。从图4也可以精确的看出,在 -VGS添加时,ID也相应添加。
操控部分电路的意图是要坚持原有的三阶段充电形式,在预充电阶段及恒压充电阶段不扩流,扩流仅在恒流阶段,如图5所示。
原充电器以1A电流充电,若扩流电流为1A,则在恒流充电阶段时充电电流为2A。图5中红线为充电电池电压特性、黑线为充电电流特性,实线为加扩流特性,虚线可看出:扩流的充电时刻t5比不扩流的时刻要短(图5中的时刻坐标并未按份额画);而且也可以精确的看出:扩流仅在恒流充电阶段进行。
为确保扩流在电池电压3.0V开端,在电池电压4.15V时完毕,操控电路设置了窗口比较器,在电池电压(VBAT)为3.0~4.15V之间操控P-MOSFET导通。在此窗口电压外,P-MOSFET截止。
在图2中,由R5、R6及R7、R8组成两个电压分压器(检测电池的电压VBAT),并别离将其检测的电压输入比较器P1及比较器P2组成的窗口比较器。R3、R4别离为P1及P2的上拉电阻,D2、D3为阻隔二极管。充电电池电压VBAT与P1、P2的输出及P-MOSFET的作业状况如表1所示。
从图2可看出:P-MOSFET的-VGS电压是由R2、RP往D1供给的,则P-MOSFET在上电后应是一向导通的。现要求在电池电压(VBAT)小于3.0V及大于4.15V时P-MOSFET要关断,则操控电路要在VBAT3.0V及VBAT 4.15V时,在P-MOSFET的栅极G上加上高电平,使其-VGS=0.7V,小于导通阈值电压-VGS(th),则P-MOSFET截止(关断)。现由P1、P2比较器及其他元器件组成窗口比较器完成了这一操控要求:无论是P1或P2输出高电平时,VIN经过R4或R3及D3或D2加在P-MOSFET的栅极上,迫使栅极电压为VIN=0.7V,则-VDS=0.7V而截止,满意了操控的要求(见图6)。图中,D1、D2、D3是阻隔二极管,是正确操控必不可少的。
P-MOSFET在扩流时的功耗PD与输出电压VIN电池电压VBAT、肖特基二极管的正向压降VF及扩流电流ID有关,其计算公式如下:
贴片式功率MOSFET选用印制板的敷铜层来散热,即在规划印制板时要留出必定的散热面积。例如,选用DPAK封装的MTD2955E在计算出PDmax=1.75W时,需11mm2散热面积;若PDmax=3W时,需26mm2散热面积。若选用双面敷铜板(在上基层做一些金属化孔相互连接,使用空气流通),则其面积可减小。若散热欠好,功率MOSFET的温度上升,ID的输出会随温度添加而上升。所以满足的散热是要注重的,最好是试验确认其适宜散热面积,使ID安稳。
这儿还需要指出的是,不同封装的P-MOSFET,在相同的最大功耗时,其散热面积是不同的。例如选用SO-8封装的Si99XXDY系列P-MOSFET时,封装尺度小、背面无金属散热垫,其散热面积要比用DPAK封装大得多。详细的散热面积由试验确认。
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